日本三丰Mitutoyo FS70 半导体检测显微镜

日本三丰Mitutoyo FS70 半导体检测显微镜,半导体观测显微镜 ,工作距离足够长，倍数高，能够应用在各种检测场合和质量确认方面。搭配Mitutoyo的全系列可见光远场校正镜头，显微镜系统的放大倍率可涵盖20X到8000X，工作距离范围从6到34mm。对焦目镜可安装直径为25mm的测量分划板来测量。50/50三端输出显微镜的粗调范围为50mm，精确调整分辨率可达0.1mm，并可同时进行视频输出和双目观测。FS70系列半导体检测显微镜单元是一款带目镜观察的小巧显微镜单元。适于检测金属表面、半导体、液晶基板、树脂等。可应用于切割、修整、校正、 给半导体电路做标记/ 薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。

特点

● 采用Mitutoyo远场校正镜头

● 三端输出设计可轻松接收视频

● 转盘可接最多四个物镜

应用：

切割、修整、校正、 给半导体电路做标记

薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。

还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。

• 可用于红外光学系统*。

应用：晶体硅的内部观察；红外光谱特征分析。

* 需要红外光源和红外摄像机。

• 支持BF (亮视场)、DF (暗视场)、偏振光及微分干涉对比(DIC) 的型号(产品) 可用。

• 带有孔径光阑的柯勒照明是表面照明光学系统上的标准配件。

• 内倾转塔和超长工作距离的物镜确保了显微镜下的高可操作性。

应用：

切割、修整、校正、 给半导体电路做标记

薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。

还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。

• 可用于红外光学系统*。

应用：晶体硅的内部观察；红外光谱特征分析。

* 需要红外光源和红外摄像机。

• 支持BF (亮视场)、DF (暗视场)、偏振光及微分干涉对比(DIC) 的型号(产品) 可用。

• 带有孔径光阑的柯勒照明是表面照明光学系统上的标准配件。

• 内倾转塔和超长工作距离的物镜确保了显微镜下的高可操作性。

应用：

切割、修整、校正、 给半导体电路做标记

薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。

还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。

• 可用于红外光学系统*。

应用：晶体硅的内部观察；红外光谱特征分析。

* 需要红外光源和红外摄像机。

• 支持BF (亮视场)、DF (暗视场)、偏振光及微分干涉对比(DIC) 的型号(产品) 可用。

• 带有孔径光阑的柯勒照明是表面照明光学系统上的标准配件。

• 内倾转塔和超长工作距离的物镜确保了显微镜下的高可操作性。

应用：

切割、修整、校正、 给半导体电路做标记

薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。

还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。

• 可用于红外光学系统*。

应用：晶体硅的内部观察；红外光谱特征分析。

* 需要红外光源和红外摄像机。

• 支持BF (亮视场)、DF (暗视场)、偏振光及微分干涉对比(DIC) 的型号(产品) 可用。

• 带有孔径光阑的柯勒照明是表面照明光学系统上的标准配件。

• 内倾转塔和超长工作距离的物镜确保了显微镜下的高可操作性。

技术参数